ISSN:
0392-6737
Keywords:
Superconducting materials
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Physics
Description / Table of Contents:
Riassunto La microscopia elettronica in trasmissione è stata utilizzata per caratterizzare una fase superconduttrice presente nel sistema Bi−Sr−Ca−Cu−O. Si sono assottigliati con una procedura meccanica seguita da assottigliamento con fascio ionico campioni sinterizzati i quali presentano una singola temperatura di 85 K. Le diffrazioni elettroniche mostrano che il superconduttore possiede una cella unitaria ortorombica appartenente al gruppo spazialePnnn. Le immagini ad alta risoluzione mostrano che il diffetto piú commune corrisponde ad una struttura lamellare causata da geminati con piano di composizione (001). Vengono, inoltre, discusse strutture alternative essenzialmente create da spostamenti di mb/5+n a per ogni periodic.
Abstract:
Резюме Просвечивающая электронная микроскопия применяется для исследования микроскопических характеристик сверхпроводящей фазы в системе Bi−Sr−Ca−Cu−O. Синтерированные образды, которые обнаруживают сверхпроводящий переход при температуре 85 K, что указывает на образованиеB фазы, были утончены механически и ионниым пучком. Дифракция электронов показывает, что сверхпроводник Bi2Sr2CaCu2O8 обладает примитивной орторомбической элементарной ячейкой с пространственной группойPnnn. Электронная микроскопия высокого разрешения показывает, что наиболее общий дефект соответствует слоистой структуре (001). Обсуждаются возможные производные структуры, основанные на присутствииm b/5+n a сдвигов каждогоc периода.
Notes:
Summary Transmission electron microscopy has been applied to investigate the microscopic features of a superconducting phase present in the system Bi−Sr−Ca−Cu−O. Sintered samples showing a single transition temperature of 85K, which points out the formation of aB-phase, were mechanically and ion-beam thinned. Electron diffraction shows that the Bi2Sr2CaCu2O8 superconductor possesses a primitive orthorhombic unit cell withPnnn space group. High-resolution electron microscopy reveals that the most common defect corresponds to a (001) lamellar structure caused from frequent twins with (001) composition plane and [001] fourfold axis twin operator. Possible derivative structures, essentially based on the occurrence ofm b/5+n a shifts everyc period, are discussed.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF02459021
Permalink
