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    Digitale Medien
    Digitale Medien
    Atomic mixing in ion probe microanalysis (1975)
    Springer
    Applied physics 6 (1975), S. 277-279 
    Details
    ISSN: 1432-0630
    Schlagwort(e): Surface analysis ; SIMS
    Quelle: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Thema: Maschinenbau , Physik
    Notizen: Abstract The atomic mixing due to a knock-on cascade has much influence on the depth resolution of ion probe microanalysis. The preliminary experimental results support the assumption that the depth resolution due to this effect is determined by the competition of sputtering rate and creation rate of atomic displacement.
    Materialart: Digitale Medien
    URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF00883764
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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