ISSN:
0933-5137
Schlagwort(e):
Chemistry
;
Polymer and Materials Science
Quelle:
Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
Thema:
Maschinenbau
Beschreibung / Inhaltsverzeichnis:
Calculation of X-ray reflections of polycrystalline Titanium under the influence of a nitrogen gradient and residual stressesIn the present paper a procedure is shown for the calculation of x-ray reflections from a crystalline solid, in which a concentration gradient as well as planar surface residual stresses exist. The (004)-reflection of nitrided titanium with residual stresses serves as an example. The profiles and positions of the (004)-reflections are calculated for a residual stress measurement according to the ω-procedure.The calculated results show that a concentration gradient broadens the reflection profile while homogeneous residual stresses shift the position of the reflection. Since the position of the reflection is only negligibly altered by a concentration gradient, a separation of both influences from the analysis of the diffractogram is possible.
Notizen:
In der vorliegenden Arbeit wird ein Verfahren zur Berechnung von Röntgenreflexen eines Festkörpers, in dem gleichzeitig ein Konzentrationsgradient und ebene oberflächenparallele Eigenspannungen vorhanden sind, vorgestellt. Als Beispiel dient der (004)-Reflex von nitriertem, eigenspannungsbehaftetem Titan. Die Profile und Lagen des (004)-Reflexes werden berechnet für eine Eigenspannungsmessung nach dem ω-Verfahren.Die erhaltenen Rechenergebnisse Zeigen, daß ein Konzentrationsgradient das Reflexprofil verbreitert, während homogene Eigenspannungen die Reflexlage verschieben. Die Reflexlage wird durch einen Konzentrationsgradienten in dem gewählten Stoffsystem nur vernachlässigbar beeinflußt, so daß eine Trennung beider Einflußgrößen aus der Diffraktogrammauswertung möglich ist.
Zusätzliches Material:
6 Ill.
Materialart:
Digitale Medien
URL:
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.19890200805
Permalink
