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  • 1985-1989  (1)
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  • 1
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Springer
    Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie 326 (1987), S. 105-117 
    ISSN: 1618-2650
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Description / Table of Contents: Summary The different excitation methods of X-ray spectral analysis with protons, photons and electrons (PIXE, XRFA and EPMA, respectively) are compared with regard to detection power, precision and accuracy. The evaluation of the independently optimized excitation methods is based on practical problems of trace-analysis: on the analysis of aluminium, lead and trace-concentrate targets of water and glass. For thick homogeneous samples XRFA turned out to be the best method, because of the very high stability of modern instruments. PIXE is advantageous for thin samples and if some kind of sample preparation like chemical preconcentration is necessary which introduces an additional scatter of ⩾ 1%, so that the high stability of XRFA instruments is no longer effective. EPMA is inferior to both, PIXE and XRFA, in all cases, where information on the lateral distribution of the elements is of no interest.
    Notes: Zusammenfassung Die verschiedenen Anregungsmethoden der Röntgenspektralanalyse mit Protonen, Photonen und Elektronen (PIXE, XRFA bzw. EPMA) werden hinsichtlich ihres Nachweisvermögens, ihrer Präzision und Genauigkeit verglichen. Die Beurteilung der jeweils optimierten Anregungsmethoden basiert auf praktischen Problemen der Spurenanalyse: auf der Analyse von Aluminium, von Blei und von Spurenkonzentraten aus Wasser und Glas. Für dicke homogene Proben erwies sich die XRFA wegen der sehr guten Stabilität der heutigen Geräte als überlegen. PIXE ist vorteilhaft anzuwenden, wenn dünne Proben vorliegen oder wenn eine Probenvorbereitung, wie z.B. eine chemische Voranreicherung, erforderlich ist, die zu einer zusätzlichen Streuung von ⩾ 1% führt, so daβ die hohe Stabilität der XRFA-Geräte nicht mehr zum Tragen kommt. EPMA ist sowohl PIXE als auch XRFA unterlegen, solange nicht die lokale Verteilung von Elementen zu ermitteln ist.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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