ISSN:
1618-2650
Keywords:
Spektralanalyse, ICP
;
flexible Einzelelementanalyse, Mikro- und Makroproben
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Chemistry and Pharmacology
Description / Table of Contents:
Summary This paper deals with flexible single-element analysis using inductively coupled plasma-atomic emission spectrometry (ICP-AES). Some non-routine problems encountered in the daily practice of an analytical service group in a research laboratory of a large electronic industry were handled with ICP-AES and — when rational — also with wet-chemical techniques including atomic absorption spectrometry (AAS). The analyses covered micro and macro samples and involved the determination of trace constituents: Ni in a CrO3-sulphuric acid etching liquid, Sn in 18% sulphuric acid, and B in TiO2 powder; a minor constituent: Cr in Mg-ferrite; major constituents: Sm and Co in an Sm-Co alloy, Fe, Al and Si in a thin Fe-Al-Si layer, B and Li in LiBF4, Si in thin Si3N4 layers, and Y and Eu in a thin Y2O3-Eu2O3 layer. The power of ICPAES as an analytical tool for solving a variety of nonroutine analytical problems with a relatively simple spectroscopic approach and little chemical treatment of the sample solutions became quite evident.
Notes:
Zusammenfassung Diese Arbeit betrifft die flexible Einzelelementanalyse mittels atomarer Emissionsspektrometrie unter Verwendung eines induktiv gekoppelten Hochfrequenzplasmas (ICP-AES). Es wurde mit ICP-AES und — soweit es vernünftig war — auch mit naß-chemischen Methoden einschließlich Atomabsorption (AAS) eine Reihe von Analysenproblemen bearbeitet, die nicht als Routine-Probleme zu bezeichnen sind, jedoch zum täglichen Aufgabenangebot einer analytischen Service-Gruppe in einem Forschungslabor eines großen Unternehmens der Elektronik-Industrie gehören. Die Analysen bezogen sich auf Mikround Makroproben und umfaßten die Bestimmung von Spuren: Ni in einer Chromoxid-Schwefelsäure-Ätzflüssigkeit, Sn in 18%-iger Schwefelsäure und B in TiO2-Pulver; die Bestimmung einer Nebenkomponente: Cr in Mg-Ferrit; ferner die Bestimmung von Hauptkomponenten: Sm und Co in einer Sm-Co-Legierung, Fe, Al und Si in einer Fe-Al-Si-Dünnschicht, B und Li in LiBF4, Si in Si3N4-Dünnschichten und Y und Eu in einer Y2O3-Eu2O3-Dünnschicht. Die Möglichkeit, mit ICP-AES eine Vielfalt von Analyseproblemen bei verhältnismäßig geringem spektroskopischem Arbeitsaufwand und nur wenigen chemischen Behandlungen der Probelösungen zu bewältigen, wurde eindeutig nachgewiesen.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF00468547
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