ISSN:
1436-5073
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Chemistry and Pharmacology
Description / Table of Contents:
Summary Following a review of the information possibilities of the electron beam microanalysis, a new method is presented involving the stereoscopic detection of the electrons sprayed back from the surface of the specimen. By means of examples it is shown that in this way it is possible to differentiate well between surface topography and chemical composition of the structural components on the surface of the specimen.
Abstract:
Résumé Après une vue d'ensemble sur les possibilités d'informations microanalytiques par irradiation électronique, on présente une nouvelle méthode de détection stéréoscopique de la surface des échantillons par diffraction électronique en retour. On montre en se servant d'exemples qu'une bonne distinction entre la topographie superficielle et la composition chimique des constituants de la texture est ainsi possible sur la surface de l'échantillon
Notes:
Zusammenfassung Nach einer Übersicht über die Informationsmöglichkeiten der Elektronenstrahlmikroanalyse wird eine neue Methode der stereoskopischen Detektion von der Probenoberfläche rückgestreuter Elektronen dargestellt. An Hand von Beispielen wird gezeigt, daß dadurch eine gute Unterscheidung zwischen Oberflächentopographie und chemischer Zusammensetzung der Gefügebestandteile an der Probenoberfläche möglich ist.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF01216431
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