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Digitale Medien

Photothermal deflection spectroscopy of polymer thin films (1995)

So, S. K. ; Chan, M. H. ; Leung, L. M.

Springer

Applied physics 61 (1995), S. 159-161

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Details

ISSN: 1432-0630

Schlagwort(e): 78.20.Dj ; 78.66.Qn

Quelle: Springer Online Journal Archives 1860-2000

Thema: Maschinenbau , Physik

Notizen: Abstract Photothermal Deflection Spectroscopy (PDS) is known to be one of the most sensitive techniques for measuring the absorption of weakly absorbing materials. We have applied PDS for measuring the optical absorption of a few polymer thin-film samples over the wavelength region from 0.4–2.0 μm. The results are useful for optical evaluation of these polymers.

Materialart: Digitale Medien

URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF01538383

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