ISSN:
1618-2650
Schlagwort(e):
Analyse von Zeolithen
;
Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie
;
OberflÄchenuntersuchung
Quelle:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Thema:
Chemie und Pharmazie
Beschreibung / Inhaltsverzeichnis:
Zusammenfassung Die OberflÄchenzusammensetzung von zwei verschiedenen Zeolith-Proben des Typs A und Kupfer-dotierten Proben dieses Zeoliths wurde mit Hilfe der Röntgenphotoelektronenspektroskopie (ESCA) untersucht. Das VerhÄltnis von Aluminium zu Silicium betrÄgt an der OberflÄche 0,66, was betrÄchtlich vom VerhÄltnis 1 dieser Elemente in der Gesamtprobe abweicht. Bei dem mit NaOH-Lösung gewaschenen Kupferdotierten Zeolith war die OberflÄchenkonzentration an Natrium und Kupfer im Vergleich zur Konzentration dieser Elemente bei den mit Wasser gewaschenen Proben ungewöhnlich hoch.
Notizen:
Abstract The composition of the surface layer of two different samples of zeolite A and copper-doped zeolites of the Type A was examined with X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The aluminium-silicon ratio in the surface layer is 0.66. There is a significant difference between the surface layer composition and the bulk composition. The aluminium-silicon ratio of the bulk material is nearly 1. The zeolite with copper doping which had been washed with NaOH solution, had a high concentration of sodium and copper in the surface layer, compared with the samples which had been washed with water.
Materialart:
Digitale Medien
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF00539073
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