ISSN:
0933-5137
Keywords:
Chemistry
;
Polymer and Materials Science
Source:
Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
Topics:
Mechanical Engineering, Materials Science, Production Engineering, Mining and Metallurgy, Traffic Engineering, Precision Mechanics
Description / Table of Contents:
The detection of thin contaminated layers on contact surfaces.Today electrical contacts must satisfy requirements which are growing steadily. The detection of very thin contaminated layers at contact surfaces therefore becomes very important. Clad gold contacts were contaminated with very small amounts of Zink. Contact resistance measurements and surface analysis measurements by AES and SIMS were shown to be adequate for the detection of this surface contamination.
Notes:
Der Nachweis dünner Verunreinigungsschichten auf Kontaktoberflächen wird bei den steigenden Anforderungen an die Qualität elektrischer Kontakte immer wichtiger. Am Beispiel mit Zink verunreinigter Kontaktoberflächen wird gezeigt, daß durch die Kombination von Kontaktwiderstandsmessungen und der Analyse der Oberfläche durch moderne Methoden auch sehr dünne anorganische Verunreinigungsschichten erfaßt und identifiziert werden können. Die spezifischen Oberflächenanalysenmethoden AES und SIMS sind natürlich besser geeignet als die Elektronenstrahlmikroanalyse.
Additional Material:
2 Ill.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.19750060404
Permalink