ISSN:
1435-1536
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Chemistry and Pharmacology
,
Mechanical Engineering, Materials Science, Production Engineering, Mining and Metallurgy, Traffic Engineering, Precision Mechanics
Description / Table of Contents:
Zusammenfassung Es wird eine einfache Methode beschrieben, die die röntgenographischen Diffraktionserscheinungen für lamellare Gemische zu berechnen erlaubt. Die Methode gründet sich auf die Berechnung der eindimensionalen Fouriertransformierten. Sie führt zu exakten Ergebnissen, und zwar unter Berücksichtigung der folgenden Faktoren: Kristallitgröße (auch wenn die Kristallite nicht sämtlich von derselben Größe sind), Unregelmäßigkeitsgrad in der Zusammenlagerung der Schichten, Verschiedenheit der Strukturfaktoren der Schichten.
Notes:
Summary A simple method based on Fourier transforms is described, for calculating X-ray diffraction effects due to interstratified mixtures of layers. The method is exact, and allows the following factors to be taken into account: crystallite size (including cases where the crystallites all not all of the same size), degree of randomness, variation of layer structure factor.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF01812363
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