Electronic Resource
OMICRON Collaboration
;
Bason, E.
;
Bressani, T.
;
[et al.]
Chiavassa, E.
;
Costa, S.
;
Dellacasa, G.
;
Gallio, M.
;
Musso, A.
;
Stanovnik, A.
;
Zephat, A.G.
;
van Eijk, C.W.E.
;
Frame, D.
;
Michaelis, E.G.
;
Kernel, G.
;
Davies, J.D.
;
Bos, K.
;
... and further 7
Amsterdam
:
Elsevier
Physics Letters B
118 (1982), S. 319-323