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  • 1985-1989  (1)
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  • 1
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Il nuovo cimento della Società Italiana di Fisica 9 (1987), S. 71-85 
    ISSN: 0392-6737
    Keywords: Atomic photon processes
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Physics
    Description / Table of Contents: Riassunto Si sono effettuate misure di fluorescenza X indotta da bombardamento di ioni4He di energia compresa tra 0.6 e 5.0 MeV sugli elementi Ag, Cd, In, Sn, Sb, Te e I. Utilizzando un metodo di normalizzazione interna fondato su contemporanee misure di retrodiffusione Rutherford, si sono ottenute le sezioni d’urto assolute per un certo numero di righe X. Da quelle relative alle righeL α ,L γ1,5 eL γ2,3 si sono poi ricavate le sezioni d’urto di ionizzazione per i diversi sottostratiL. Il confronto con le teorie disponibili ha evidenziato la presenza di sensibili disaccordi per tutti i bersagli al di sotto dell’energia incidente di 2.0 MeV e, per Ag, Cd ed In, anche per energie piú elevate, che sono stati attribuiti in parte ai parametri atomici disponibili per i calcoli delle sezioni d’urto ed in parte all’inadeguatezza delle teorie che descrivono il processo di ionizzazione.
    Notes: Summary The X-radiation induced by4He ion impact on Ag, Cd, In, Sn, Sb, Te and I has been investigated for incident energies ranging from 0.6 to 0.5 MeV. Production cross-sections for various X-ray lines have been obtained by an internal normalization method, by means of simultaneous backscattering measurements. From the intensities on theL α ,L γ1,5 andL γ2,3 lines theL-subshell ionization cross-sections have been extracted. Comparison with current theories shows systematic discrepancies for all the targets at incident energy below 2.0 MeV and, for Ag, Cd and In, even in the higher-energy region. These are attributed to deviations in the atomic parameters used in the data analysis as well as to a failure of the ionization theories employed.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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