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  • Chemistry  (3)
  • 1
    ISSN: 0009-286X
    Keywords: Chemistry ; Industrial Chemistry
    Source: Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology , Process Engineering, Biotechnology, Nutrition Technology
    Notes: Nichtionogene Tenside der allgemeinen Formel R(OCH2CH2)nOH werden durch Polyaddition von Äthylenoxid an organische Hydroxy-Verbindungen hergestellt. Am Beispiel des Nonylphenols wurde die Kinetik der durch Alkali katalysierten Reaktion bei den technisch interessierenden Bedingungen (Temperaturen über 120 °C, Überschuß an Hydroxy-Verbindung) untersucht. Für die Reaktionsgeschwindigkeit ergab sich eine Abhängigkeit erster Ordnung von den molaren Konzentrationen sowohl an Äthylenoxid als auch an Katalysator. Die Geschwindigkeitskonstante ist vom Oxäthylierungsgrad n in dem untersuchten Bereich (bis n ≈ 8) praktisch unabhängig; aus ihrer Temperaturabhängigkeit wurde die Aktivierungsenergie zu 19,0 kcal/mol bestimmt. Ein Vergleich der Ergebnisse mit Umsatzmessungen mit einer halbtechnischen Versuchsanlage ergab, daß sich ein durchströmtes System aus einem nichtgerührten Kessel mit nachgeschaltetem Wärmetauscher in erster Näherung als Rohr mit Pfropfenströmung beschreiben läßt.
    Additional Material: 5 Ill.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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  • 2
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Chichester [u.a.] : Wiley-Blackwell
    Surface and Interface Analysis 12 (1988), S. 324-325 
    ISSN: 0142-2421
    Keywords: Chemistry ; Polymer and Materials Science
    Source: Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
    Topics: Physics
    Type of Medium: Electronic Resource
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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  • 3
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Chichester [u.a.] : Wiley-Blackwell
    Surface and Interface Analysis 15 (1990), S. 415-421 
    ISSN: 0142-2421
    Keywords: Chemistry ; Polymer and Materials Science
    Source: Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
    Topics: Physics
    Notes: The dynamic range is one of the most important figures of merit of SIMS measurements and equipment. The term refers to the concentration range of an analysed element - its concentration being high near the surface but decreasing with increasing depth - that can be measured by depth profiling. The state of the art is such that, under favourable conditions, 5-6 orders of magnitude are possible (measured on ion-implanted boron in silicon). It is shown that with special sample preparation techniques (removal of the sputter crater environment) the dynamic range can be extended to 7 orders of magnitude. Experimental details of the preparative methods are given together with a critical evaluation of the methods.
    Additional Material: 5 Ill.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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