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Digitale Medien

Analysis of thin layers by means of spark-source mass spectrometry (1981)

Jansen, J. A. J. ; Witmer, A. W.

Springer

Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie 309 (1981), S. 305-307

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Details

ISSN: 1618-2650

Schlagwort(e): Massenspektrometrie, Funken ; Dünnschichtanalyse, Profilanalyse

Quelle: Springer Online Journal Archives 1860-2000

Thema: Chemie und Pharmazie

Beschreibung / Inhaltsverzeichnis: Summary A device has been constructed with which the surface of a specimen can be scanned with a spark drawn from a fixed counter electrode. The mean depth of penetration is of the order of microns and limits of detection of 0.1 ppm are possible. Repeated scanning allows profile analysis, too.

Notizen: Zusammenfassung Eine Anordnung wurde konstruiert, mit der eine sich drehende Probenoberfläche durch eine feste Gegenelektrode abgetastet werden kann. Die mittlere Eindringtiefe pro Funkenentladung liegt in der Größenordnung von Mikrometern. Nachweisgrenzen von 0,1 ppm sind möglich. Durch wiederholtes Abtasten können auch Profilanalysen durchgeführt werden.

Materialart: Digitale Medien

URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF00488607

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