Electronic Resource
De Moor, P.
;
Camps, J.
;
Schuurmans, P.
;
[et al.]
Severijns, N.
;
Vanderpoorten, W.
;
Van Geert, A.
;
Vanhellemont, Y.
;
Vanneste, L.
;
Wouters, J.
;
Coron, N.
;
Jegoudez, G.
;
Leblanc, J.
[S.l.]
:
American Institute of Physics (AIP)
Journal of Applied Physics
79 (1996), S. 3811-3815