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Secondary ion emission microanalysis: Applications to the study of human skin

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Summary

Secondary ion emission microanalysis is a new method of physical analysis recently applied in biology. The apparatus required (CAMECA SMI 300) enables pictures to be taken of the distribution of certain elements, with a space resolution of the order of 1 μm. Concentrations below 1 p.p.m. are perceptible for most elements.

The present results are the first obtained for human skin sections. Investigation of the natural elements of normal skin reveals no particular accumulation. Elements foreign to the skin are easy to detect. We show here the distribution in the epidermis of clinical antiseptics applied locally.

This method has two advantages compared to X-ray microanalysis. It is more sensitive and allows analysis of even the lightes elements. However, its use in skin penetration studies is limited because it does not permit quantitative analysis and serious interference problems may occur.

Zusammenfassung

Die Sekundärionen-Massenspektrometrie (Inonenstrahlmikroanalyse) ist eine neue Methode zur physikalischen Analyse in der Biologie. Die verwendete Apparatur (CAMECA SMI 300) ermöglicht Bilder von der Verteilung bestimmter Elemente mit einer Auflösung von 1 μm. Konzentrationen unter 1 p.p.m. sind bei den meisten Elementen noch wahrnehmbar.

Es wird über die ersten Resultate an menschlichen Hautschnitten berichtet. Die in der normalen Haut vorkommenden Elemente zeigen keine besondere Anhäufung. Ein fremdes Element in der Haut ist leicht zu entdecken. Die Verteilung in der Epidermis von verschiedenen, lokal aufgetragenen klinischen Antiseptica wird gezeigt.

Verglichen mit der Röntgenstrahlen-Mikroanalyse hat diese Methode den Vorteil ihrer Empfindlichkeit und die Möglichkeit, leichte Elemente zu bestimmen. Ihre Anwendung bei Hautpenetrationsstudien ist dennoch begrenzt, da sie keine quantitative Analyse erlaubt und Überlagerungsprobleme mit einschließt.

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This work was supported by a grant from the INSERM (A.T.P. 677899 — Contrat No. 14)

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Guillaume, J.C., Prost, C., Dubertret, L. et al. Secondary ion emission microanalysis: Applications to the study of human skin. Arch Dermatol Res 270, 37–47 (1981). https://doi.org/10.1007/BF00417148

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