Literatur
Oechsner H, Rühe W, Stumpe E (1979) Surface Sci 85:289
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Müller, KH., Oechsner, H. & Halden, T. Vergleichende SNMS-, SIMS-, XPS- und AES-Analysen von Metallegierungen und nichtelementaren Halbleitern. Z. Anal. Chem. 314, 242–243 (1983). https://doi.org/10.1007/BF00516808
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF00516808