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Satz 1 von 1       Testing static random access memories: defects, fault models and test patterns 1. Person/Familie Hamdioui, Said Titel Testing static random access memories: defects, fault models and test patterns Verantw.-ang. Said Hamdioui Verlagsort Boston, Mass. [u.a.] Verlag Kluwer Academic E-Jahr 2004 Umfangsangabe XX, 221 S. HT 1. Reihe u. Zähl. Frontiers in electronic testing Anm. z. Erscheinungsverm. Erscheinungsjahr in Vorlageform 2004 ISBN 1-4020-07752-1 URL http://www.loc.gov/catdir/toc/fy046/2004041373.html Notation B.3.4 Notation B.8.0 Notation 68M99 Bestand 1 Sign-Info B.3.4 Ham

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