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Uber ultramikroskopische Untersuchungen bei einseitiger Beleuchtung

Der ultramikroskopische Mie-Effekt

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Zeitschrift für Physik

Zusammenfassung

  1. 1.

    Die zuerst von Mie theoretisch beschriebene Erscheinung, daß die Intensitätsverteilung des von Einzelteilchen abgebeugten Lichtes ein Maximum in der Fortpflanzungsrichtung des erregenden Lichtes aufweist, wurde bei den ultramikroskopischen Beugungserscheinungen wiedergefunden und als Mie-Effekt bezeichnet.

  2. 2.

    Der Mie-Effekt kann bei einseitiger Beleuchtung und bei der Untersuchung von ruhenden Teilchen einen Azimuteffekt vortäuschen; dieser Fehler wird bei sorgfältiger Einstellung dünner Präparatstellen vermieden.

  3. 3.

    Ultramikroskopische Präparate enthalten oft gröbere Teilchen, die wegen ihrer starken Lichtabbeugung die Untersuchung der feineren Effekte stören; infolge des Mie-Effekts besitzt dies überstark abgebeugte Licht vorwiegend Strahlen großer Aperturen.

  4. 4.

    Dichte ultramikroskopische Präparate sind infolge Aufhellung des Hintergrundes schwer auflösbar; der Grund dieser Aufhellung ist (unter anderen) der Mie-Effekt, da infolge des letzteren Licht (von den vom Objektiv zugelassenen Aperturen) entstehen kann, welches in einer zum Objekt konjugierten Ebene nicht zu Bildpunkten vereinigt wird.

  5. 5.

    Da die störenden Strahlen sowohl beim Azimuteffekt wie bei gröberen Teilchen und bei dichten Präparaten infolge des MieEffekts vorwiegend große Aperturen besitzen, können diese Fehler durch Verkleinerung der Objektivapertur weitgehend verringert werden. Zu einer zweckmäßigen ultramikroskopischen Untersuchung muß das Objektiv eine einstellbare Aperturblende besitzen.

  6. 6.

    Durch Anwendung einer Azimut- und Aperturblende läßt sich das Tyndallphänomen am Einzelteilchen untersuchen.

  7. 7.

    Die gemeinsame Anwendnng der Azimut- und Objektivaperturblende macht das Funkelphänomen äußerst empfindlich für die Erkennung der nichtkugeligen Gestalt von kolloiden Teilchen.

  8. 8.

    Infolge des Mie-Effekts arbeiten die koaxialen Dunkelfeldkondensoren günstiger als die Dunkelfeldeinrichtungen, wo Beleuchtungs- und Beobachtungsrichtungen aufeinander senkrecht stehen.

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Herrn Professor Dr. H. Freundlich möchte ich für sein dauerndes Interesse an der Arbeit und für seine wertvollen Ratschläge vielmals danken.

Die Arbeit wurde zum Teil mit Mitteln der Hoshi-Stiftung ausgeführt, der ich an dieser Stelle meinen besten Dank aussprechen möchte.

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Szegvari, A. Uber ultramikroskopische Untersuchungen bei einseitiger Beleuchtung. Z. Physik 21, 348–357 (1924). https://doi.org/10.1007/BF01328283

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