Zusammenfassung
Die magnetischen Strukturen dünner ferromagnetischer Schichten können im Elektronenmikroskop bei scharfer Abbildung (nach einem Schlierenverfahren) und bei unscharfer Abbildung untersucht werden. Eisenschichten zeigen in den Weiß-schen Bezirken eine magnetische Unterstruktur.
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Die Verfasser danken Herrn cand. ing. H.Weber für die Schichtherstellung und den Herren Dr. Ing. H.Hamisch und Dipl.-Phys. J.Geiger für anregende Diskussionen.
Die Verfasser danken ferner für die Bewilligung von ERP-Mitteln und der AEG für die Überlassung eines Elektronenmikroskopes EM 8, mit dem die Untersuchungen nach dem Schlierenverfahren durchgeführt wurden.
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Boersch, H., Raith, H. & Wohlleben, D. Elektronenoptische Untersuchungen Weißscher Bezirke in dünnen Eisenschichten. Z. Physik 159, 388–396 (1960). https://doi.org/10.1007/BF01337539
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01337539