Titel:
Sampling, wavelets, and tomography /
Beteiligte Person(en):
Benedetto, John
,
Zayed, Ahmed I.
Verlag:
Boston :Birkhäuser,
Erscheinungsjahr:
2003
Seiten:
p. cm
Serie:
Applied and computational harmonic analysis
ISBN:
0-8176-4304-4
,
3-7643-4304-4
Materialart:
Buch
Sprache:
Englisch
Schlagwort(e):
Hamonic analysis
;
Wavelets (Mathematics)
;
Fourier analysis
;
Sampling (Statistics)
;
Tomography
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