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Buch

Benedetto, John ; Zayed, Ahmed I.

Boston :Birkhäuser,

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Details

Titel: Sampling, wavelets, and tomography /

Beteiligte Person(en): Benedetto, John , Zayed, Ahmed I.

Verlag: Boston :Birkhäuser,

Erscheinungsjahr: 2003

Seiten: p. cm

Serie: Applied and computational harmonic analysis

ISBN: 0-8176-4304-4 , 3-7643-4304-4

Materialart: Buch

Sprache: Englisch

Schlagwort(e): Hamonic analysis ; Wavelets (Mathematics) ; Fourier analysis ; Sampling (Statistics) ; Tomography

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