ISSN:
0044-2313
Keywords:
Chemistry
;
Inorganic Chemistry
Source:
Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
Topics:
Chemistry and Pharmacology
Description / Table of Contents:
X-ray diffractometer data from powdered thulium orthoferrite, TmFeO3, were used for the determination of the crystal structure by least squares methods. The data were corrected for impurity phases and for anomalous dispersion. Precise lattice constants were determined by calibration with admixed high purity silicon powder.
Notes:
Röntgenpulverdiagramme liefern Daten zur Strukturbestimmung des Thuliumorthoferrits. Aus den Integralintensitäten der Reflexe werden nach Berücksichtigung von Fremdphasenüberlagerungen die Koordinaten der Ionen in der Elementarzelle durch Ausgleichsrechnung bestimmt. Die genauen Gitterkonstanten werden durch Vermessung mit Referenzlinien von zugemischtem reinstem Silicium ermittelt.
Additional Material:
2 Ill.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1002/zaac.19683560307
