Electronic Resource
Hitchcock, A.P.
;
Tyliszczak, T.
;
Aebi, P.
;
[et al.]
Xiong, J.Z.
;
Sham, T.K.
;
Baines, K.M.
;
Mueller, K.A.
;
Feng, X.H.
;
Yang, B.X.
;
Baribeau, J.-M.
;
Chen, J.M.
;
Jackman, T.E.
;
Lu, Z.H.
Amsterdam
:
Elsevier
Surface Science
291 (1993), S. 349-369