Bibliothek

Sprache
Bevorzugter Suchindex
Ergebnisse pro Seite
Sortieren nach
Sortierung
Anzahl gespeicherter Suchen in der Suchhistorie
E-Mail-Adresse
Voreingestelltes Exportformat
Voreingestellte Zeichencodierung für Export
Anordnung der Filter
Maximale Anzahl angezeigter Filter
Autovervollständigung
Feed-Format
Anzahl der Ergebnisse pro Feed
feed icon rss

Ihre E-Mail wurde erfolgreich gesendet. Bitte prüfen Sie Ihren Maileingang.

Leider ist ein Fehler beim E-Mail-Versand aufgetreten. Bitte versuchen Sie es erneut.

Vorgang fortführen?

Exportieren
  • 1
    Digitale Medien
    Digitale Medien
    Springer
    International journal of thermophysics 21 (2000), S. 543-552 
    ISSN: 1572-9567
    Schlagwort(e): antireflection coating ; parameter estimation ; photoacoustic effect ; thermal diffusivity ; through-plane
    Quelle: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Thema: Physik
    Notizen: Abstract In this study, we designed and developed two-layer antireflection (AR) optical coating samples on glass substrates, using different evaporation conditions of coating rates and substrate temperatures for two dielectric materials, MgF2 and ZnS, with different refractive indices. The through-plane thermal diffusivity of these systems was measured using the photoacoustic effect. The optical thicknesses of MgF2 and ZnS layers were fixed at 5λ/4 (λ=514.5 nm) and λ, respectively, and the thermal diffusivities of the samples were obtained from the measured amplitude of the photoacoustic signals by changing the chopping frequency of the Ar+ laser beam. The results demonstrated that the thermal diffusivity of the sample fabricated under the conditions of 10μÅ·s−1 and 150°C had the maximum value and that the results were directly related to the microstructure of the film system.
    Materialart: Digitale Medien
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
    BibTip Andere fanden auch interessant ...
Schließen ⊗
Diese Webseite nutzt Cookies und das Analyse-Tool Matomo. Weitere Informationen finden Sie hier...