Electronic Resource
Zhang, L.
;
Shohet, J. L.
;
Dallmann, D.
;
[et al.]
Booske, J. H.
;
Speth, R. R.
;
Shenai, K.
;
Goeckner, M. J.
;
Kruger, J. B.
;
Rissman, P.
;
Turner, J. E.
;
Perez-Albuerne, E.
;
Lee, S.
;
Meyyappan, N.
Woodbury, NY
:
American Institute of Physics (AIP)
Applied Physics Letters
65 (1994), S. 962-964