ISSN:
0933-5137
Keywords:
Chemistry
;
Polymer and Materials Science
Source:
Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
Topics:
Mechanical Engineering, Materials Science, Production Engineering, Mining and Metallurgy, Traffic Engineering, Precision Mechanics
Description / Table of Contents:
Understanding the relationships between mechanical and other physico-chemical properties and the microstructural chemistry is a necessity for a well-controlled development of new materials. A prerequisite for the achievement of this goal is an advanced microanalytical characterization, which can be obtained by application of surface analysis methods. Among these, high resolution Auger electron spectroscopy (HR-AES or Scanning Auger Microscopy, SAM) has proved to be extremely useful for surface, interface and depth profile analysis of ceramic materials. After a short presentation of the principles and the main areas of application, specific advantages are discussed for some examples. Those are e.g. a depth of information in the nanometer range, a sub-micrometer lateral resolution, a relatively high detection sensitivity for the light elements like B, C, N, O, and a small matrix effect in quantitative analysis. The main disadvantages are due to a variety of detrimental electron beam induced effects which are outlined for some examples of oxide and non-oxide ceramics. The generation of electrical charging of insulating ceramics and its avoidance or reduction by appropriate experimental procedures is particularly emphasized.
Notes:
Das für eine kontrollierte Materialentwicklung benötigte Verständnis des Zusammenhangs zwischen mechanischen und anderen physikalisch-chemischen Eigenschaften und dem mikrostrukturellen Aufbau setzt eine leistungsfähige mikroanalytische Charakterisierung voraus, die vor allem durch den Einsatz oberflächenspezifischer Untersuchungsverfahren erhalten werden kann. Unter diesen hat sich insbesondere die hochauflösende Auger-Elektronenspektroskopie (High Resolution Auger-Electron Spectroscopy, HR-AES bzw. Scanning Auger Microscopy, SAM) in Verbindung mit Oberflächen-, Bruchflächen- und Tiefenprofilanalysen bewährt, deren Grundlagen und Haupteinsatzgebiete unter besonderer Berücksichtigung keramischer Werkstoffe vorgestellt werden. Den Vorteilen kleiner Informationstiefe im Nanometerbereich, der hohen Ortsauflösung im Sub-Mikrometer-Bereich, der vergleichsweise hohen Nachweisempfindlichkeit für leichte Elemente wie B, C, N, O sowie der geringen Matrix-Effekte bei der quantitativen Analyse stehen als Nachteile eine Reihe störender elektronenstrahlinduzierter Effekte gegenüber. Diese werden anhand ausgewählter Beispiele für oxidische- und nichtoxidische Keramiken erläutert, wobei besondere Betonung auf die Entstehung von elektrischen Aufladungen bei nichtleitenden Keramiken und deren Vermeidung bzw. Verminderung durch geeignete experimentelle Maßnahmen gelegt wird.
Additional Material:
14 Ill.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.19900210302
Permalink
