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    Electronic Resource
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    Springer
    Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie 309 (1981), S. 262-265 
    ISSN: 1618-2650
    Keywords: Best. von Kohlenstoff, Stickstoff, Sauerstoff ; Massenspektrometrie, Funken ; Spurenübersichtsanalyse, Dünnschichtanalyse, Laserionenquelle
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Description / Table of Contents: Summary Spark-source mass spectrometry is suitable for qualitative and quantitative analysis of inorganic materials. 83 elements can be determined with detection limits down to the ppb-range. With this method a wide range of bulk and thin-layer materials has been succesfully analysed in the Philips Research Laboratories. Some new developments of solid state mass spectrometry are discussed.
    Notes: Zusammenfassung Die Hochfrequenzfunken-Massenspektrometrie eignet sich zur qualitativen und quantitativen Analyse von anorganischen Materialien. 83 Elemente können mit Nachweisgrenzen bis in den ppb-Bereich bestimmt werden. In den Philips-Forschungslaboratorien wurde mit dieser Technik eine große Vielfalt von Bulk- und Dünnschicht-Materialien mit gutem Erfolg analysiert. Einige neue Entwicklungen der Festkörper-Massenspektrometrie werden besprochen.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Springer
    Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie 309 (1981), S. 305-307 
    ISSN: 1618-2650
    Keywords: Massenspektrometrie, Funken ; Dünnschichtanalyse, Profilanalyse
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Description / Table of Contents: Summary A device has been constructed with which the surface of a specimen can be scanned with a spark drawn from a fixed counter electrode. The mean depth of penetration is of the order of microns and limits of detection of 0.1 ppm are possible. Repeated scanning allows profile analysis, too.
    Notes: Zusammenfassung Eine Anordnung wurde konstruiert, mit der eine sich drehende Probenoberfläche durch eine feste Gegenelektrode abgetastet werden kann. Die mittlere Eindringtiefe pro Funkenentladung liegt in der Größenordnung von Mikrometern. Nachweisgrenzen von 0,1 ppm sind möglich. Durch wiederholtes Abtasten können auch Profilanalysen durchgeführt werden.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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