Bibliothek

feed icon rss

Ihre E-Mail wurde erfolgreich gesendet. Bitte prüfen Sie Ihren Maileingang.

Leider ist ein Fehler beim E-Mail-Versand aufgetreten. Bitte versuchen Sie es erneut.

Vorgang fortführen?

Exportieren
  • 1
    Digitale Medien
    Digitale Medien
    Springer
    Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie 309 (1981), S. 262-265 
    ISSN: 1618-2650
    Schlagwort(e): Best. von Kohlenstoff, Stickstoff, Sauerstoff ; Massenspektrometrie, Funken ; Spurenübersichtsanalyse, Dünnschichtanalyse, Laserionenquelle
    Quelle: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Thema: Chemie und Pharmazie
    Beschreibung / Inhaltsverzeichnis: Summary Spark-source mass spectrometry is suitable for qualitative and quantitative analysis of inorganic materials. 83 elements can be determined with detection limits down to the ppb-range. With this method a wide range of bulk and thin-layer materials has been succesfully analysed in the Philips Research Laboratories. Some new developments of solid state mass spectrometry are discussed.
    Notizen: Zusammenfassung Die Hochfrequenzfunken-Massenspektrometrie eignet sich zur qualitativen und quantitativen Analyse von anorganischen Materialien. 83 Elemente können mit Nachweisgrenzen bis in den ppb-Bereich bestimmt werden. In den Philips-Forschungslaboratorien wurde mit dieser Technik eine große Vielfalt von Bulk- und Dünnschicht-Materialien mit gutem Erfolg analysiert. Einige neue Entwicklungen der Festkörper-Massenspektrometrie werden besprochen.
    Materialart: Digitale Medien
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
    BibTip Andere fanden auch interessant ...
  • 2
    Digitale Medien
    Digitale Medien
    Springer
    Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie 309 (1981), S. 305-307 
    ISSN: 1618-2650
    Schlagwort(e): Massenspektrometrie, Funken ; Dünnschichtanalyse, Profilanalyse
    Quelle: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Thema: Chemie und Pharmazie
    Beschreibung / Inhaltsverzeichnis: Summary A device has been constructed with which the surface of a specimen can be scanned with a spark drawn from a fixed counter electrode. The mean depth of penetration is of the order of microns and limits of detection of 0.1 ppm are possible. Repeated scanning allows profile analysis, too.
    Notizen: Zusammenfassung Eine Anordnung wurde konstruiert, mit der eine sich drehende Probenoberfläche durch eine feste Gegenelektrode abgetastet werden kann. Die mittlere Eindringtiefe pro Funkenentladung liegt in der Größenordnung von Mikrometern. Nachweisgrenzen von 0,1 ppm sind möglich. Durch wiederholtes Abtasten können auch Profilanalysen durchgeführt werden.
    Materialart: Digitale Medien
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
    BibTip Andere fanden auch interessant ...
Schließen ⊗
Diese Webseite nutzt Cookies und das Analyse-Tool Matomo. Weitere Informationen finden Sie hier...