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    Digitale Medien
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    Positional small-angle X-ray scattering (1982)
    Stamford, Conn. [u.a.] : Wiley-Blackwell
    Polymer Engineering and Science 22 (1982), S. 928-933 
    Details
    ISSN: 0032-3888
    Schlagwort(e): Chemistry ; Chemical Engineering
    Quelle: Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
    Thema: Chemie und Pharmazie , Maschinenbau , Physik
    Notizen: Positional small-angle X-ray scattering has been implemented and developed as a new nondestructive technique to study the formation and growth of flaws in polymers. The technique consists of measuring the intensity of scattering at a constant scattering angle while the sample is moved through the incident x-ray beam. Examples of applications of the technique from several different materials are presented.
    Zusätzliches Material: 9 Ill.
    Materialart: Digitale Medien
    URL: http://dx.doi.org/10.1002/pen.760221504
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