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  • Spurenübersichtsanalyse, Dünnschichtanalyse, Laserionenquelle  (1)
Material
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Keywords
  • 1
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Springer
    Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie 309 (1981), S. 262-265 
    ISSN: 1618-2650
    Keywords: Best. von Kohlenstoff, Stickstoff, Sauerstoff ; Massenspektrometrie, Funken ; Spurenübersichtsanalyse, Dünnschichtanalyse, Laserionenquelle
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Description / Table of Contents: Summary Spark-source mass spectrometry is suitable for qualitative and quantitative analysis of inorganic materials. 83 elements can be determined with detection limits down to the ppb-range. With this method a wide range of bulk and thin-layer materials has been succesfully analysed in the Philips Research Laboratories. Some new developments of solid state mass spectrometry are discussed.
    Notes: Zusammenfassung Die Hochfrequenzfunken-Massenspektrometrie eignet sich zur qualitativen und quantitativen Analyse von anorganischen Materialien. 83 Elemente können mit Nachweisgrenzen bis in den ppb-Bereich bestimmt werden. In den Philips-Forschungslaboratorien wurde mit dieser Technik eine große Vielfalt von Bulk- und Dünnschicht-Materialien mit gutem Erfolg analysiert. Einige neue Entwicklungen der Festkörper-Massenspektrometrie werden besprochen.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Library Location Call Number Volume/Issue/Year Availability
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