ISSN:
1618-2650
Keywords:
Analyse von Metalloberflächen
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Spektrometrie, IR, Emission
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rechnergekoppeltes Gitterspektrometer
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Chemistry and Pharmacology
Description / Table of Contents:
Zusammenfassung IR-Emissionsspektroskopie bei niedrigen Temperaturen wurde bisher wegen der geringen Strahlungsenergie nur in Einzelfällen als analytische Untersuchungsmethode angewandt, wobei vielfach Michelson-Interferometer eingesetzt wurden. In der vorliegenden Arbeit wird gezeigt, daß ein IR-Gitterspektrometer mit leistungsfähiger Optik und elektronischer Signalverarbeitung eine für die Aufnahme von IR-Emissionsspektren guter Qualität ausreichende Empfindlichkeit und Genauigkeit besitzt. Die Auswertung der Meßergebnisse erfolgt durch einen mit dem Spektrometer on-line gekoppelten Minicomputer. Die Probe befindet sich an ihrem üblichen Platz im Probenraum und muß auf konstante Temperatur erwärmt werden. Insbesondere bei der Untersuchung von dünnen Schichten auf Metallen ist dieses Verfahren leistungsfähig und kann Vorteile gegenüber anderen Meßmethoden bieten.
Notes:
Summary Infrared emission spectroscopy at moderate temperatures has been applied for analytical investigations in special cases only, often using Michelson interferometers. It is shown here that the sensitivity and accuracy of an IR grating instrument with high-performance optics and electronic recording allows emission spectra of good quality to be taken on a routine basis. Evaluation is performed by a minicomputer coupled on-line to the spectrometer. The sample is placed at its usual position in the sample compartment and has to be kept at a constant elevated temperature. Especially for the investigation of thin films on metals, this is a powerful analytical method and may offer advantages over other methods.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF00516246
