ISSN:
0933-5137
Keywords:
Chemistry
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Polymer and Materials Science
Source:
Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
Topics:
Mechanical Engineering, Materials Science, Production Engineering, Mining and Metallurgy, Traffic Engineering, Precision Mechanics
Description / Table of Contents:
Pitting Corrosion at Copper Tubes of Tap Water Systems released by Soldering FluxThe pitting corrosion is the mostly observed reason for getting corrosion damage of copper tubes in tap water systems. In case of loss the reason for corrosion attack is ascribed to rests of cracked drawing compounds at the copper tube wall.The results from own examinations of copper tubes corroded in different tap waters show in case of loss the reason for corrosion damage as cracked soldering flux. This gets by the different described ways into the copper tube and becomes cracked by the soldering temperature. This way formed corrosion attacks often show breaches firstly far away from the soldered joint so that mostly other reasons of damage (cracked drawing compounds) are simulated.
Notes:
Die häufigste zum Versagen von Kupferrohren in der Trinkwasserinstallation führende Korrosionsart ist die Lochkorrosion. Als schadensauslösend werden dabei in der Literatur die beim Weichglühen der Rohre gecrackten Ziehmittelreste (Kohlenstoffbeläge der Rohrinnenwandungen) und Rückstände von chloridhaltigen Weichlöt-Fluß-mitteln angesehen.Eigene Untersuchungen von Schadensfällen an Kupferrohren der Trinkwasserinstallation zeigen, daß die Ursache, welche zum Versagen der Rohre führt, meistens nicht gecrackte Ziehmittelreste oder eingeflossenes Flußmittel, sondern gecrackte Flußmittel sind. Diese gelangen, auf unterschiedlichste Art und Weise, in das Rohrinnere und werden beim Einwirken der Löttemperatur gecrackt. Da ein so eingeleiteter Korrosionsangriff oftmals erst in relativ weiter Entfernung von der Lötstelle zum Durchbruch führt (Kondensatzone), werden meist andere Schadensursachen (z. B. gecrackte Ziehmittelreste) vorgetäuscht.
Additional Material:
4 Ill.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.19810121107
