ISSN:
0323-7648
Keywords:
Chemistry
;
Polymer and Materials Science
Source:
Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
Topics:
Chemistry and Pharmacology
,
Physics
Description / Table of Contents:
Die Möglichkeiten und Grenzen der Strukturaufklärung an Langmuir-Blodgett Filmen mittels symmetrischer Reflexion von Röntgenstrahlen werden anhand des Beispiels einer Stearinsäure-Multischicht beschrieben. Drei verschiedene Techniken der Elektronendichteprofil-Bestimmung werden verglichen: eine Fourier-Methode, eine Patterson-Methode und Modellrechnungen. Dabei wird die Bedeutung der a priori-Information bei der Auswahl des günstigsten Strukturmodells hervorgehoben.
Notes:
The possibilities and limits of structure refinement of Langmuir-Blodgett films by means of symmetrical reflection of X-rays are described using the example of a stearic acid multilayer. Three different techniques for the determination of the electron density profile from reflectivity data are compared: a Fourier method, a Patterson method, and model calculations. The important role of the a priori information for finding the best structure model is outlined.
Additional Material:
6 Ill.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1002/actp.1992.010430404
