ISSN:
0392-6737
Keywords:
Theory of electronic transport
;
scattering mechanisms
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Physics
Description / Table of Contents:
Riassunto In questo lavoro è riportato uno studio dell'interazione elettrone-fonone in monocristalli di seleniuro di indio, condotto mediante misure di effetto Hall e spettroscopia Raman. I dati sperimentali sono stati interpretati secondo il modello di Fivaz e Schmid, per lo scattering da fononi ottici omopolari. L'approssimazione migliore delle curve sperimentali è ottenuta assumendo un carattere bidimensionale per l'interazione tra gli elettroni ed i fononi, nel modoA 1, con energia 14.5 meV. Il carattere bidimensionale delle proprietà di trasporto è probabilmente dovuto alla presenza di difetti planari che localizzano i portatori di carica all'interno degli strati.
Abstract:
Резюме Исследуется электрон-фононное рассеяние в монокристаллах InSe, используя измерения подвижности Холла и спектроскопии комбинационного рассеяния. Экспериментальые данные интерпретируются в соответствии с моделью Фиваца и Шмидта для гомополярного оптического рассеяния. Наилучшая подгонка экспериментальных результав получается в предположении двумерного характера взаимодействия между электронами и фононами, модыA 1 , с энергией 14.5 мэВ. Двумерный характер, по-видимому, обусуовлен наличием большого числа плоских дефектов, которые сильно локализуют носители внутри слоев, что подтверждается наблюдениями электронной микроскопии.
Notes:
Summary The electron-phonon scattering in indium selenide single crystals has been investigated by Hall-mobility and Raman-spectroscopy measurements. The experimental data have been interpreted according to the Fivaz and Schmid model for homopolar optical scattering. The best fit of the experimental results is obtained by assuming the bidimensional behaviour of the interaction involving anA 1 phonon with energy 14.5 meV. The bidimensional character is probably due to the presence of a large number of planar defects, confirmed by electron microscope observations, which strongly localize the carriers within the layers.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF02451897
