Electronic Resource
Arnould, M.
;
Baeten, F.
;
Darquennes, D.
;
[et al.]
Delbar, T.
;
Dom, C.
;
Huyse, M.
;
Jongen, Y.
;
Leleux, P.
;
Reusen, G.
;
Ryckewaert, G.
;
Vanhorenbeeck, J.
;
Vervier, J.
;
Lacroix, M.
;
Loiselet, M.
;
Lipnik, P.
;
Van Duppen, P.
;
... and further 2
Amsterdam
:
Elsevier
Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B
40-41 (1989), S. 498-500