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    Digitale Medien
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    Oxford, UK : Blackwell Publishing Ltd
    Annals of the New York Academy of Sciences 533 (1988), S. 0 
    ISSN: 1749-6632
    Quelle: Blackwell Publishing Journal Backfiles 1879-2005
    Thema: Allgemeine Naturwissenschaft
    Materialart: Digitale Medien
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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  • 2
    Digitale Medien
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    Springer
    Applied physics 21 (1980), S. 307-311 
    ISSN: 1432-0630
    Schlagwort(e): 61.40 ; 84.60
    Quelle: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Thema: Maschinenbau , Physik
    Notizen: Abstract Amorphous siliconp−n junctions with various doping profiles have been prepared by the glow discharge technique and the effect of the barrier profile on electrical properties investigated. Current densities of up to 40 A cm−2 with rectification ratios of 104–105 were obtained withn +−ν−p + structures. The diode quality factor has also been investigated, both in the dark and under illumination.
    Materialart: Digitale Medien
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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  • 3
    Digitale Medien
    Digitale Medien
    Springer
    Plasma chemistry and plasma processing 11 (1991), S. 455-472 
    ISSN: 1572-8986
    Schlagwort(e): PECVD ; deposition ; amorphous silicon nitride ; a-SiN : H ; silane ; ammonia ; growth regimes ; aminosilanes ; OES
    Quelle: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Thema: Chemie und Pharmazie , Maschinenbau , Technik allgemein
    Notizen: Abstract Using optical emission spectroscopy (OES) we have been able to distinguish three operating regimes for the ammonia-silane glow discharge used in plasma nitride deposition. By monitoring the deposition rate and analyzing the structure and composition of thea-SiN: H films it has been possible to correlate these three plasma regimes with three distinct deposition mechanisms. The growth plasma may be tuned to each of these regimes by varying one or more of the following three external parameters: ammonia mole fraction, r .f. power, and gas flow rate. Choice of these parameters allows control of the NH n radical concentration and the residence time in the reactor, and hence control over the number of gas-phase SiH n -NH n radical-radical reactions. Thus OES makes control of the film deposition mechanism possible.
    Materialart: Digitale Medien
    Bibliothek Standort Signatur Band/Heft/Jahr Verfügbarkeit
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