Digitale Medien
Amsterdam
:
Elsevier
Microelectronic Engineering
14 (1991), S. 109-120
ISSN:
0167-9317
Schlagwort(e):
Electron beam testing
;
VLSI
;
internal nodes
;
measurement
;
power supply
;
switching noise
;
voltage bounce
Quelle:
Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect 1907 - 2002
Thema:
Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik
Materialart:
Digitale Medien
URL:
http://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/0167-9317(91)90158-A
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