ISSN:
1434-601X
Source:
Springer Online Journal Archives 1860-2000
Topics:
Physics
Notes:
Zusammenfassung Durch genaue photometrische Vermessung photographischer Aufnahmen, die unter Verwendung eines fokussierenden Spektrographen großer Dispersion erhalten wurden, ergab sich im Gegensatz zu früheren Messungen, daß die CuKα 1-Linie von CuO gegenüber derjenigen von metallischem Kupfer um einen zwar kleinen, aber meßbaren Betrag nach kürzeren Wellenlängen verschoben ist. Bei Kathodenstrahlerregung wurde die Verschiebung zu −0,021±0,008 X oder +0,11±0,04 eV, bei Fluoreszenzerregung zu −0,029±0,006 X oder +0,15±0,03 eV gemessen. Diese Verschiebung der CuKα 1-Linie ist wesentlich kleiner als sie nachβ-spektroskopischen Messungen der Bindungsenergien derK- undL-Elektronen des Kupfers im Metall und Oxyd sein sollte.
Type of Medium:
Electronic Resource
URL:
http://dx.doi.org/10.1007/BF01378611
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